书目详细信息
： 高速数字接口与光电测试
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-302-59040-8:CNY178.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 高速数字接口与光电测试/.李凯著 |
| 出版发行项： | 北京:,清华大学出版社:,2022 |
| 载体形态项： | 425页:;+彩图:;+26cm |
| 一般附注： | 四色印刷 |
| 相关题名附注： | 英文并列题名取自封面 |
| 提要文摘： | 本书从产业技术发展的角度对高速数字信号与光电互联的基本概念、关键技术进行讲解, 同时结合现代计算机、移动终端、AI计算、数据中心、电信网络中最新的接口技术, 对其标准演变、测试方法等做了介绍。 |
| 并列题名： | High speed digital interface and photoelectric test eng |
| 题名主题： | 数字接口 接口技术 |
| 题名主题： | 光电检测 测试技术 |
| 中图分类： | TN919.5 |
| 中图分类： | TN206 |
| 个人名称等同： | 李凯 著 |
| 记录来源： | CN HNLY 20240919 |