书目详细信息
： 先进集成电路电磁兼容测试与建模
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-118-12607-5:CNY128.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi fre |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 先进集成电路电磁兼容测试与建模/.(法) 亚历山大·博耶, (法) 艾·西加著/.吴建飞 ... [等] 译 |
| 出版发行项： | 北京:,国防工业出版社:,2022 |
| 载体形态项： | XVI, 314页:;+图:;+26cm |
| 一般附注： | 装备科技译著出版基金 |
| 相关题名附注： | 版权页英文题名：Basis of electromagnetic compatibility of integrated circuits |
| 提要文摘： | 本书涵盖了学习如何在发射、抗扰度和信号完整性问题上对电路及其周围环境(PCB)进行建模的基本概念，提出了在IC级理解电磁问题的基本理论概念及建模特点。 |
| 并列题名： | Basis of electromagnetic compatibility of integrated circuits eng |
| 题名主题： | 集成电路 电磁兼容 测试 |
| 题名主题： | 集成电路 电磁兼容 系统建模 |
| 中图分类： | TN402 |
| 个人名称等同： | 博耶 著 |
| 个人名称等同： | 西加 著 |
| 个人名称次要： | 吴建飞 译 |
| 记录来源： | CN HNLY 20240919 |