ISBN/价格: | 978-7-111-25575-8:CNY30 |
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作品语种: | chi |
题名责任者项: | 微电子机械系统力学性能及尺寸效应/.刘凯,韩光平著 |
出版发行项: | 北京:,机械工业出版社:,2009 |
载体形态项: | 209页:;+21开 |
提要文摘: | 本书共分9章,分析了MEMS的特征及其近期发展;详细分析了尺寸效应的内涵;建立尺寸效应泛函的分析模型;研究了单晶硅微桥式梁弯曲强度的尺寸效应及分布规律。 |
题名主题: | 微电子技术 |
中图分类: | TN4 |
个人名称等同: | 刘凯,韩光平著 著 |
记录来源: | CN 20110610 |