书目详细信息
： 互换性与测量技术基础
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 7-111-05924-7:CNY23.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 互换性与测量技术基础/.主编陈于萍, 周兆元 |
| 版本项： | 第2版 |
| 出版发行项： | 北京:,机械工业出版社:,2006.08 |
| 载体形态项： | 229页:;+图:;+26cm |
| 丛编项： | 普通高等工科教育机电类规划教材 |
| 提要文摘： | 本书主要内容有测量技术基础，尺寸的公差、配合与检测，形位公差与检测，表面粗糙度与检测，尺寸链基础，光滑极限规设计等。 |
| 题名主题： | 互换性 教材 |
| 题名主题： | 技术测量 教材 |
| 题名主题： | 公差 教材 |
| 中图分类： | TG801 |
| 个人名称等同： | 陈于萍 主编 |
| 个人名称等同： | 周兆元 主编 |
| 记录来源： | CN HNDDDT 20131011 |