书目详细信息
： 集成电路测试技术基础
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-122-02948-5:CNY26 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 题名责任者项： | 集成电路测试技术基础/.姜岩峰，张晓波，杨兵编著 |
| 出版发行项： | 北京:,化学工业出版社:,2008 |
| 载体形态项： | 170页:;+24开:;+1光盘 |
| 提要文摘： | 本书主要介绍逻辑数字集成电路测试、时序数字电路的测试、内嵌自测试的原理和方法、模拟集成电路测试技术、混合信号测试技术。 |
| 题名主题： | 测试 |
| 中图分类： | TN407 |
| 个人名称等同： | 姜岩峰，张晓波，杨兵编著 著 |
| 记录来源： | CN 20110610 |